如何計算開關(guān)電源Y電容？詳解-KIA MOS管
信息來源：本站 日期：2022-05-24
Y電容用來消除共模干擾。分別跨接在電力線兩線和地之間（L-E，N-E）的電容，一般是成對出現(xiàn)，濾除高次諧波，防止干擾，提高輸出電壓質(zhì)量。基于漏電流的限制，Y電容值不能太大，Y電容通常采用高壓瓷片的。
1、一次電路(Primary Circuit) ：
直接與外部電網(wǎng)電源連接的。
2、二次電路(Secondary Circuit)：
位于設(shè)備內(nèi)與一次側(cè)相隔離的那部分電路。
3、Y-電容(Y-Capacitor)：
跨接于一次電路與地或一、二次電路之間的高壓電容。
開關(guān)電源接地、漏電流、耐壓測試（安規(guī)）
1、接地連續(xù)性測試(Ground Continuity Test)：
A、定義：
從Inlet PG 端上通過電流至使用者可接觸的接地端，確保其阻值小于規(guī)格值，達(dá)到接地保護的功用。
B、標(biāo)淮：
1、輸入電流不大于25A，(DC or AC)電壓不超過12V，時間至少3秒(TUV要求)。
2、測試結(jié)果：電阻值不得大于100 mΩ。
2、接地泄漏電流測試(Earth Leakage Current Test)：
A、定義：
通過一個被安規(guī)單位(UL、TUV、CSA…)認(rèn)可的“人體阻抗模擬電路”，測量當(dāng)待測物 (SPS)接通電源時在可觸到的金屬部件與地之間流經(jīng)人體的電流量。
B、標(biāo)淮：
1、輸入電壓為額定電壓上限的106%。
2、測試結(jié)果：Class I≦3.5mA、Class II≦0.25mA。
3、耐壓測試(Dielectric Withstand Voltage Test)：
A、定義：
又稱高電壓介電測試，即 Hi-pot(High Potential)Test，從一次側(cè)對二次側(cè)(或一次側(cè)對地)之間實施高電壓，以確定內(nèi)部絕緣層有隔離危險電壓的功用。
B、標(biāo)淮：
1、輸入電壓為下列所示：
2、測試結(jié)果：不可有絕緣擊穿現(xiàn)象(Breakdown)。
耐壓測試交流與直流之區(qū)別
耐壓測試之漏電流計算方法
1、DC 測試之漏電流設(shè)定：
DC 測試電流非常小(μA)，一般一次側(cè)對二次側(cè)之間實施DC高電壓,漏電流設(shè)定：0μA~100μA。
2、AC 測試之漏電流理論計算：
計算公式：I =2π*f*V*Cy
其中：f— 測試電壓頻率 ( 50Hz or 60Hz )V— 測試電壓 ( unit : volt )Cy—跨接于一次側(cè)與地或一、二次側(cè)之間的Y電容總和。
所以：Imin = 2π*f*V*CyminImax= 2π*f*V*Cymax
Cy 電容計算：Cy =Cy1 Cy2 Cy3 …
若一次側(cè)地與二次側(cè)地之間跨接一顆Y電容(Cy0)，則：
Y電容公差一般為：/-20% OR /-10%
3、實際設(shè)定AC 測試漏電流時需考慮下列因素：
1）考慮初始漏電流 ： 初始漏電流即在無待測物狀態(tài)下，所測得的漏電流。
2）考慮Y電容公差 ： 電源工程師在選擇同一顆容量大小的Y電容時，往往有幾個型號，但其公差不一樣(有的是 /-10%，有的是 /-20%)，給實際漏電流設(shè)置帶來麻煩，因此我們應(yīng)該按 /-20% 公差去設(shè)定，否則須依 /-10% 公差去設(shè)定。
3）考慮實際線路中存在的分散電容，因此漏電流范圍設(shè)定：(下限取整 :上限入整)
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